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HALT*HASS試驗箱提供的高溫變速率以及寬頻隨機振動獲取更多收益。HALT測試(高加速壽命測試)是目前世界的主流制造商廣泛采用的驗證性測試方法,用于發(fā)現(xiàn)電子或機電系統(tǒng)組件的設(shè)計缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。這些缺陷經(jīng)常出現(xiàn)在新產(chǎn)品發(fā)布后的終端應(yīng)用領(lǐng)域,從而引起產(chǎn)品失效。HALT測試可以極大的提高產(chǎn)品質(zhì)量,縮短新產(chǎn)品研發(fā)上市的時間并降低保修成本。
環(huán)境模擬試驗:
早在1940年代美國就對產(chǎn)品的設(shè)計開始采用單因素環(huán)境的研制試驗與鑒定試驗,以檢驗設(shè)計的質(zhì)量與可靠性(1),至70年代發(fā)展到采用綜合環(huán)境可靠性試驗CERT和任務(wù)剖面試驗,為檢驗工藝則采用不帶設(shè)計作度的驗收試驗。
隨著環(huán)境模擬試驗技術(shù)的發(fā)展與成熟,各政府部門及軍兵種相繼頒了一系列的國標(biāo)、軍標(biāo),以嚴(yán)格的法規(guī)形式來保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,其中有代表性的如環(huán)境模擬試驗軍標(biāo)MLIL-STD-810可靠性試驗軍標(biāo)MIL-STD-781和空間飛行器試驗軍標(biāo)MIL-STD-1540以及它們的修訂版,具體產(chǎn)品型號則根據(jù)這些標(biāo)準(zhǔn)與型號的特點制訂詳細(xì)的試驗大鋼,長期以來環(huán)境模擬試驗便成為保障產(chǎn)品可靠性主要手段。
這種方法的不足之處是對設(shè)計和工藝缺陷未作專門處理,只分別通過鑒定試驗與驗收試驗解決,因此潛在的缺陷殘留量仍不少,隨時都是可能在外場使用出現(xiàn)故障,可靠性的增長靠自然反饋緩緩地實現(xiàn),這時木已憂舟,留給設(shè)計修改的時間與間空者極其有限,從而使市場競爭的優(yōu)勢在為降低。