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半導(dǎo)體涉及到哪些可靠性設(shè)備測(cè)試

發(fā)布時(shí)間: 2017-02-21  點(diǎn)擊次數(shù): 2862次

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低溫貯存試驗(yàn)|低溫貯存試驗(yàn)箱;

溫濕度貯存試驗(yàn)|溫濕度貯存試驗(yàn)箱;

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Gas Corrosion Test 氣體腐蝕試驗(yàn)機(jī)

Vibration Test 震動(dòng)試驗(yàn)機(jī)

Shock Test 機(jī)械沖擊試驗(yàn)機(jī)

Bump Test 碰撞試驗(yàn)機(jī)

 跌落試驗(yàn)機(jī)

機(jī)械應(yīng)力可靠性試驗(yàn)

Pull/push/shear test 推拉力/剪切強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)

Press/bending test 彎曲試驗(yàn)試驗(yàn)機(jī)

Durability/mating test 插拔試驗(yàn)機(jī)

高加速壽命試驗(yàn)

High Accelerated Stress Test (HAST) 高加速溫濕度及偏壓試驗(yàn)/高加速壽命試驗(yàn)箱

HALT/HASS/HASA 高加速壽命試驗(yàn)箱/高加速應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱/高加速應(yīng)力稽核試驗(yàn)箱

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