高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能；等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min（40℃）

所屬分類(lèi)：熱應(yīng)力復(fù)合試驗(yàn)箱

更新時(shí)間：2024-05-23

廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	價(jià)格區(qū)間	20萬(wàn)-50萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子,航天,汽車(chē),電氣

高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱介紹：

為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。賽思sethtest

高低溫沖擊應(yīng)力試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能
2、等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min(40℃)/min
3、滿(mǎn)足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求
4、賽思采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行
5、賽思除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時(shí)完成；
6、通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線(xiàn)下載功能
7、感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出（回）風(fēng)口符合實(shí)驗(yàn)有效性
8、機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè)，配置無(wú)線(xiàn)遠(yuǎn)程報(bào)警功能
9、水路和水位控制與電控系統(tǒng)隔離安裝，安全可靠性高(SETH產(chǎn)品)

滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法試驗(yàn)Na
EIA-364-32 冷熱沖擊試驗(yàn)
IEC6008-2-14 溫度變化
GJB 150.5-1986 溫度沖擊試驗(yàn)
符合:MIL、IEC、JIS、IPC…應(yīng)力篩選RAMP（負(fù)載參見(jiàn)5.5.7，發(fā)熱負(fù)載≤50W）

產(chǎn)品&規(guī)范	廠(chǎng)商名稱(chēng)	高溫	低溫	溫變率	循環(huán)數(shù)	循環(huán)時(shí)間	備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選	——	工作極限溫度	工作極限溫度	5℃/min	10～12	3h20min	——
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	71℃	-54℃	5℃/min	10	——	——
MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法	——	工作極限溫度	工作極限溫度	10℃/min	10	——	駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時(shí)
NABMAT-9492 美軍*制造篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	55℃	-53℃	15℃/min	10	——	駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時(shí)
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	組件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25	——	達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	設(shè)備或系統(tǒng)	70℃	-55℃	5℃/min	≧10	——	達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間
筆記本電腦	主板廠(chǎng)商	85℃	-40℃	15℃/min	——	——	——

溫控制斜率：

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn)
	28℃/min→	LED汽車(chē)照明燈
	25℃/min→	PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車(chē)引擎蓋下環(huán)境)
	11℃/min→	無(wú)鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車(chē)、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試
	5℃/min→	錫須溫度循環(huán)試驗(yàn)

技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內(nèi)箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時(shí)間設(shè)定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動(dòng)度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以?xún)?nèi)
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃